特許

J-GLOBAL ID：200903047960680350

光散乱検出装置

発明者： 大久保 邦彦
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-213073
公開番号（公開出願番号）：特開2008-039539
出願日： 2006年08月04日
公開日（公表日）： 2008年02月21日
要約：

【課題】幅広い粒径の微粒子の分子量や粒子サイズを一度に測定することで、測定作業を簡単にするとともに時間経過に伴う粒子の結合や乖離等の現象の知見を得易くする。【解決手段】第1波長を有する第1光源部1の出射光(静的光散乱測定光)と第1波長とは異なる第2波長を有する第2光源部2の出射光(動的光散乱測定光)とを、ビームスプリッタ5で合一させて同軸的に液体試料Sを流す試料セル10に照射する。このとき、静的光散乱測定光の照射面積を広くコヒーレント光である動的光散乱測定光の照射面積は小さく絞る。試料セル10を取り囲むように、第1波長を選択的に検出する検出器12と第2波長を選択的に検出する検出器13とを配置し、検出器11、12と検出器13による検出信号は別々にデータ処理部15で演算処理することで、試料Sに含まれる粒子の分子量や大きさを計算する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

液体状又は気体状の試料中の微粒子を検出するための光散乱検出装置において、 a)試料を保持する透明な試料セルと、 b)第1波長又は第1波長帯域を有する静的光散乱測定用の光を出射する第1光源手段と、 c)前記第1波長又は第1波長帯域とは異なる第2波長又は第2波長帯域を有する動的光散乱測定用の光を出射する第2光源手段と、 d)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、静的光散乱測定用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出するべく第1波長又は第1波長帯域を選択的に検出可能な複数の検出器から成る第1検出手段と、 e)前記試料セルを中心に取り囲むように配置され、動的光散乱測定用の光の照射に応じて前記試料セルから周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を検出するべく第2波長又は第2波長帯域を選択的に検出可能な1乃至複数の検出器から成る第2検出手段と、 f)第1光源手段による静的光散乱測定用の光と第2光源手段による動的光散乱測定用の光が同時に前記試料セルに照射されたときに第1検出手段による検出信号と第2検出手段による検出信号とを並行的に受け、前者に基づいて静的光散乱法による演算を実行するとともに後者に基づいて動的光散乱法による演算を実行する演算処理手段と、 を備えることを特徴とする光散乱検出装置。

IPC (3件)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/06 ,  G01N 21/27

FI (3件)：

G01N15/02 A ,  G01N15/06 C ,  G01N21/27 B

Fターム (15件)：

2G059AA03 ,  2G059BB01 ,  2G059BB06 ,  2G059BB09 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK03 ,  2G059MM01

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 米国特許第4541719号明細書
  
• 米国特許第5129723号明細書