特許

J-GLOBAL ID：200903047963365537

屈折率変化測定装置

発明者： 近藤 聖二
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-368968
公開番号（公開出願番号）：特開2002-168780
出願日： 2000年12月04日
公開日（公表日）： 2002年06月14日
要約：

【要約】【課題】測定精度が高く低価格な屈折率測定装置を提供する。【解決手段】屈折率変化測定装置100は、平行光ビームを射出する光源部102と、光ビームの径を拡大するビームエキスパンダー104と、平行光ビームを収束性の光ビームに変えて試料セル200に照射する収束光学素子108と、試料セル200から戻る光ビームを選択的に分離する分離光学素子106と、試料セル200からの戻り光ビームを検出する光検出器110とを備えている。試料セル200は、入射する光ビームの一部を透過するとともに残りを反射することにより、試料206を通る試料光ビームと試料206を通らない参照光ビームとを作り出す参照面202と、試料206を間に挟んで参照面202に対して平行に位置する反射面204とを有している。試料セル200は、収束光学素子108に対して、光ビームが参照面202に垂直に照射されるように配置される。

請求項（抜粋）：

試料セルに収容された気体や液体や膜等の試料の屈折率の変化を測定する屈折率変化測定装置であり、平行な光ビームを射出するための光源部と、平行な光ビームを収束性の光ビームに変えるとともに収束性の光ビームを試料セルに照射するための収束光学素子と、試料セルから戻る光ビームを試料セルに向かう光ビームから選択的に分離するための分離光学素子と、分離光学素子によって分離された試料セルからの戻り光ビームを検出するための光検出器とを備えており、試料セルは、試料の前後に平行に位置する参照面と反射面とを有しており、光ビームは参照面にほぼ垂直に照射され、参照面は、入射する光ビームの一部を参照光ビームとして反射するとともに残りを試料光ビームとして透過し、反射面は、参照面を通過した試料光ビームを反射し、反射面で反射された試料光ビームは参照面を通過して参照光ビームと結合して干渉し、参照光ビームと試料光ビームの干渉は、光検出器の受光面にリング状の干渉縞を形成し、光検出器は、試料の屈折率の変化に対応するリング状の干渉縞の移動を検出する、屈折率変化測定装置。

IPC (3件)：

G01N 21/45 ,  G01N 21/03 ,  G01N 21/13

FI (3件)：

G01N 21/45 A ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 21/13

Fターム (22件)：

2G057AA01 ,  2G057AA02 ,  2G057AA07 ,  2G057AB04 ,  2G057AC01 ,  2G057AC03 ,  2G057AC10 ,  2G057BA01 ,  2G057HA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB10 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04 ,  2G059MM09 ,  2G059NN06