特許
J-GLOBAL ID:200903048035138984

パターン認識方法、装置および記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴木 誠 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-004223
公開番号(公開出願番号):特開平11-110562
出願日: 1998年01月12日
公開日(公表日): 1999年04月23日
要約:
【要約】【課題】 外形が円形である特定パターンの画像が、入力画像中で回転して存在している場合でも、少ない計算量で、かつ高精度に認識する。【解決手段】 外形判定部2は、入力画像の複数の位置からエッジが検出されたとき、外形が円形であるパターンが存在していると判定する。回転角度検出部3は、判定されたパターンの画像の画素値とテーブルの対応する値との積和を計算することによりツェルニケ・モーメントを求め、そのモーメントを基に回転角度を検出する。パターン判定部4は、パターン画像の特徴量と検出された回転角度の近傍の辞書内の特徴量を用いて各円周毎に距離を算出し、最小の距離を基に各円周の評価値を算出し、その評価値を基に入力画像中に、外形が円形である特定パターンの画像が存在していると認識する。
請求項(抜粋):
入力画像中に、外形が円形である特定パターンの画像が存在しているか否かを認識するパターン認識方法であって、前記入力画像の複数の位置から画像の中心に向かってエッジの存在を調べ、前記複数の位置からエッジが検出されたとき、前記入力画像中に外形が円形であるパターンが存在していると判定し、前記判定されたパターンの画像のツェルニケ・モーメントを求め、該ツェルニケ・モーメントを基に前記パターン画像の回転角度を検出し、前記パターン画像の中心から複数の同心円上にある画像について、各円周について基点から順番に配列した特徴量を算出し、該円周毎の特徴量と、該円周と同一半径である辞書内の各円周について基点から順番に配列した特徴量との距離、および基点から順次ずらした位置から配列された特徴量との距離を算出するとき、前記検出された回転角度の近傍に相当する、前記辞書内のずらした位置から配列された特徴量を用いて前記各円周毎に距離を算出し、前記各円周毎に算出された距離の内、最小の距離を基に前記各円周の評価値を算出し、該評価値が所定の閾値以上である円周の個数が所定の閾値以上あるとき、前記入力画像中に、外形が円形である特定パターンの画像が存在していると認識することを特徴とするパターン認識方法。
IPC (5件):
G06T 7/00 ,  G01B 11/02 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/26 ,  G06T 7/60
FI (5件):
G06F 15/70 330 M ,  G01B 11/02 H ,  G01B 11/24 F ,  G01B 11/26 H ,  G06F 15/70 350 H

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