特許
J-GLOBAL ID：200903048035970191
正弦波信号発生測定方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松村 博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-266290
公開番号（公開出願番号）：特開平11-109011
出願日： 1997年09月30日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】【課題】 正弦波信号発生器と選択レベル計とからなる正弦波発生測定装置の校正を簡便,高速且つ高精度に行えるようにする。【解決手段】 校正時には、基準信号発生器14を基準として電力計5の出力信号レベルの校正を行って、当該校正で得た補正データを不揮発性メモリ6に蓄積した後、校正した電力計5を基準として正弦波信号発生器1の出力信号レベルの校正を行って、当該校正で得た補正データを不揮発性メモリ6に蓄積すると共に、校正した正弦波信号発生器1の出力信号レベルを基準として、選択レベル計9の設定周波数範囲内での測定信号レベルの校正を行って、当該校正で得た補正データを不揮発性メモリ13に蓄積し、測定時には、正弦波信号発生器1と選択レベル計9との間に被測定物7,8を接続した上、不揮発性メモリ6,13の補正データを用いて、被測定物7,8のレベルの測定を行う。
請求項（抜粋）：
校正時には、先ず、基準信号発生器と電力計とを接続した上、前記基準信号発生器を基準として前記電力計の出力信号レベルの校正を行って、当該校正で得た補正データを正弦波信号発生器の不揮発性メモリに蓄積した後、前記電力計と前記正弦波信号発生器とを接続した上、前記電力計を基準として前記正弦波信号発生器の出力信号レベルの校正を行って、当該校正で得た補正データを前記正弦波信号発生器の不揮発性メモリに蓄積すると共に、前記正弦波信号発生器と選択レベル計とを接続した上、前記正弦波信号発生器の出力信号レベルを基準として、前記選択レベル計の設定周波数範囲内での測定信号レベルの校正を行って、当該校正で得た補正データを前記選択レベル計の不揮発性メモリに蓄積し、測定時には、前記正弦波信号発生器と前記選択レベル計との間に被測定物を接続して、前記正弦波信号発生器の不揮発性メモリの前記補正データ及び前記選択レベル計の不揮発性メモリの前記補正データを用いて、前記被測定物のレベルの測定を行うことを特徴とする正弦波信号発生測定方法。
FI (3件)：
G01R 35/00 L
, G01R 35/00 B
, G01R 35/00 F
