特許

J-GLOBAL ID：200903048054834878

実装基板検査装置

発明者： 橋本 利夫
出願人/特許権者： 三明電機株式会社
代理人 (1件)： 飯田 堅太郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-256883
公開番号（公開出願番号）：特開平10-103933
出願日： 1996年09月27日
公開日（公表日）： 1998年04月24日
要約：

【要約】【課題】 半田フィレットの量の過大、過小の判別精度を向上させ、高精度の検査を行なうこと。【解決手段】 演算処理手段は、検査前に、撮像手段による良品半田フィレットマスタ、過大半田フィレットマスタおよび過小半田フィレットマスタの各画像信号を基に各フィレットマスタの断面形状を表す座標点を求め、この各座標点から良品半田フィレットマスタ、過大半田フィレットマスタおよび過小半田フィレットマスタの各断面積値を求め、これらの断面積値から過大判別閾値と過小判別閾値とを求めて記憶しておき、検査時に、撮像手段による検査対象半田フィレットの画像信号を基に検査対象半田フィレットの断面形状を表す座標点を求め(ステップ103)、この座標点から検査対象半田フィレットの断面積値を求め(ステップ105)、この断面積値と過大判別閾値および過小判別閾値とを比較して検査対象半田フィレットの良否を判定する(ステップ106)。

請求項（抜粋）：

電子部品が実装されている基板の半田フィレットの良否を検査するための実装基板検査装置において、前記半田フィレットに照明光を照射する多段の円環状照明手段と、前記半田フィレットの反射光を受光する撮像手段と、検査対象半田フィレットの良否を判定する演算処理手段とを備え、前記演算処理手段は、前記撮像手段による検査対象半田フィレットの画像信号を基に検査対象半田フィレットの断面形状を表す座標点を求め、この座標点から検査対象半田フィレットの断面積値を求め、この断面積値と予め定めた判別閾値とを比較して検査対象半田フィレットの良否を判定することを特徴とする実装基板検査装置。

IPC (4件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  H05K 3/34 512

FI (4件)：

G01B 11/24 K ,  G01N 21/88 F ,  H05K 3/34 512 B ,  G06F 15/62 405 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平4-301549
  
• 半田付け状態の外観検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-239941   出願人：松下電工株式会社
• 特開平4-301549