特許

J-GLOBAL ID：200903048061163865

光スイッチ検査装置

発明者： 市川 俊亨 ,  永山 剛 ,  能勢 英樹
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-367076
公開番号（公開出願番号）：特開2002-171584
出願日： 2000年12月01日
公開日（公表日）： 2002年06月14日
要約：

【要約】【課題】 光パスを効率的に検査可能な光スイッチの検査装置を得る。【解決手段】 光入力端子121a〜121d毎に予め定められた互いに異なる波長の検査光01〜04を出力する光源部1、光スイッチの光パスを通過し光出力端子121e〜121hからの検査光05〜08の波長を検出し検出結果を出力する検出部3、光パスに応じて検出されるべき波長を示す光パス判定テーブル10を予め記憶した記憶部53、光パス判定テーブル10と検出結果とに基づき光スイッチの光パスを判定する判定部5とを備えた。

請求項（抜粋）：

光スイッチの光入力端子毎に予め定められた互いに異なる波長の検査光を出力する光源部、前記光スイッチの光パスを通過して光出力端子毎に出力された検査光から波長を検出して検出結果を出力する検出部、前記光スイッチの光パスに応じて前記検出部に検出されるべき波長を示す光パス判定テーブルを予め記憶した記憶部、前記光パス判定テーブルと前記検出結果とに基づき前記光スイッチの光パスを判定する判定部とを備えたことを特徴とする光スイッチ検査装置。

IPC (5件)：

H04Q 11/04 ,  H04B 10/08 ,  H04B 10/02 ,  H04M 3/26 ,  H04Q 3/52

FI (5件)：

H04M 3/26 A ,  H04Q 3/52 C ,  H04Q 11/04 L ,  H04B 9/00 K ,  H04B 9/00 T

Fターム (18件)：

5K002BA06 ,  5K002DA13 ,  5K002EA06 ,  5K002EA07 ,  5K002GA07 ,  5K019AB07 ,  5K019BA03 ,  5K019CB05 ,  5K019CC09 ,  5K019CC14 ,  5K019CC16 ,  5K019CD01 ,  5K069BA09 ,  5K069CB10 ,  5K069DB33 ,  5K069EA21 ,  5K069EA25 ,  5K069HA00