特許
J-GLOBAL ID：200903048088155031
超低温校正方法および超低温校正装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-108971
公開番号（公開出願番号）：特開2004-317193
出願日： 2003年04月14日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：
【課題】被校正温度センサーの設置場所またはその近傍で、被校正温度センサーと信号ケーブルと表示装置を含む超低温測定装置全体としての実温度校正が行える超低温校正方法および超低温校正装置を提供すること。【解決手段】信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーが設置されている場所またはその近傍に移動可能に構成された超低温校正装置を搬送し、信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーを標準温度センサーとともに超低温校正装置に挿入することにより、被校正温度センサーの実温度校正を行うことを特徴とするもの。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーが設置されている場所またはその近傍に移動可能に構成された超低温校正装置を搬送し、信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーを標準温度センサーとともに超低温校正装置に挿入することにより、被校正温度センサーの実温度校正を行うことを特徴とする超低温校正方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
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