特許
J-GLOBAL ID：200903048118500316
テラワットテーブルトップレーザーを用いた放射化分析法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
社本 一夫 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-247071
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057196
出願日： 2001年08月16日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
要約：
【要約】【課題】 テラワットテーブルトップレーザーによって試料を放射化して行う放射化元素分析法に関するものである。【解決手段】 テラテーブルトップレーザーによって発生するγ線を試料に照射することで放射化を行い、放射化した試料が崩壊する時に放射するγ線(X線)を測定することによって元素分析を行う方法。
請求項（抜粋）：
テラワットテーブルトップレーザーによって発生するγ線を試料に照射することで放射化を行い、放射化した試料が崩壊する時に放射するγ線(X線)を測定することによって元素分析を行う方法。
Fターム (6件)：
2G001AA02
, 2G001AA07
, 2G001BA01
, 2G001BA02
, 2G001CA02
, 2G001GA01
