特許
J-GLOBAL ID：200903048161062080
IC特性測定用の入出力端子
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
船橋 國則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-251728
公開番号（公開出願番号）：特開平8-114624
出願日： 1994年10月18日
公開日（公表日）： 1996年05月07日
要約：
【要約】【目的】 長期にわたって電気的に安定した接続状態を得ることができるIC特性測定用の入出力端子を提供する。【構成】 中空構造をなすピンソケット2と、ピンソケット2の中空部3にスライド自在に嵌挿された接触ピン4と、ピンソケット2の中空部3内に組み込まれて接触ピン4を一方向に付勢するバネ部材5とを備えたIC特性測定用の入出力端子1であり、ピンソケット2の中空部3に高導電液15を封入し、且つその液面高さを接触ピン4の可動領域内に設定した。これにより、ICデバイスの外部リードにて接触ピン4を圧接させた場合、ピン下端部を高導電液15中に浸漬させ、ピンソケット2と接触ピン4との間に高導電液15を導電媒体として電気的に安定した接続状態を得る。
請求項（抜粋）：
中空構造をなすピンソケットと、前記ピンソケットの中空部にスライド自在に嵌挿された接触ピンと、前記ピンソケットの中空部内に組み込まれて前記接触ピンを一方向に付勢するバネ部材とを備え、前記バネ部材の付勢力に抗してICデバイスの外部リードを前記接触ピンの先端部に圧接させることにより、前記ICデバイスとIC特性測定回路とを電気的に接続するIC特性測定用の入出力端子において、前記ピンソケットの中空部に高導電液が封入されるとともに、前記高導電液の液面高さが前記接触ピンの可動領域内に設定されたことを特徴とするIC特性測定用の入出力端子。
IPC (2件)：
前のページに戻る
