特許
J-GLOBAL ID：200903048171652152
誘導加熱疵検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-309005
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142171
出願日： 1991年11月25日
公開日（公表日）： 1993年06月08日
要約：
【要約】【目的】 棒状の技検査材の表面疵検出において、表面に赤外線放射率の低い部分及びピン角があっても、誤検出を防止できる誘導加熱疵検出装置を得る。【構成】 電磁誘導で加熱された被検査材1の表面から放射される赤外線4を撮像して画像データを得るための赤外線カメラ5、ビデオインタフェース6及び画像メモリ7を備える。更に被検査材1の巾方向の画像データを両方向から微分処理する正方向微分部8及び逆方向微分部9を備え、かつその両方の微分データを論理積処理する合成部10を備える。又その合成データより疵判定する疵判定部11及び判定レベルを設定する判定レベル設定部12を備える。一方ピン角による誤検出対策として、疵判定データを全長について集計し巾位置ごとの疵量分布データを得る疵ヒストグラム作成部13を備える。その疵量分布データに基づいて巾方向の疵判定レベルを変化させて疵の再判定処理を行なうように構成した。
請求項（抜粋）：
所定速度で搬送される被検査材表面を電磁誘導で生ずる渦電流で加熱した後、その表面から放射される赤外線を赤外線カメラにより画像入力して疵検出処理を行なう誘導加熱疵検出装置において、赤外線カメラが出力するビデオ信号をディジタル画像データに変換するビデオインタフェースと、このビデオインタフェースが出力する画像データを入力記憶する画像メモリと、この画像メモリに記憶された画像データを被検査材の一つの巾方向に微分処理する正方向微分部と、この正方向微分部とは逆の巾方向に微分処理する逆方向微分部と上記正方向微分部が出力する各微分データの論理積処理を行なう合成部と、この合成部が出力する合成データにより疵判定処理を行なう疵判定部と、この疵判定部に疵の判定レベルを設定する判定レベル設定部を備えたことを特徴とする誘導加熱疵検出装置。
IPC (5件)：
G01N 25/72
, G01N 21/89
, G06F 15/62 400
, G06F 15/70 330
, G08B 21/00
