特許

J-GLOBAL ID：200903048181344529

複数の発光点を有する半導体レーザの特性の測定方法

発明者： 鈴木 康夫
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-185619
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013199
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】 複数の発光点を有する半導体レーザの1つ1つの発光点の半導体レーザの特性を実使用時に近い状態で測定することが可能な測定方法を提供する。【解決手段】 複数の発光点を有する半導体レーザの特性の測定方法において、特性を測定する発光点以外の発光点のうち少なくとも1つの発光点のレーザをしきい値Ithよりも少ない電流IOPLD2で駆動しながら、前記特性を測定する発光点のレーザをしきい値電流値Ith以上の電流IOPLD1で駆動して、前記特性を測定する発光点のレーザの特性を測定する。

請求項（抜粋）：

複数の発光点を有する半導体レーザの特性の測定方法において、特性を測定する発光点以外の発光点のうち少なくとも1つの発光点のレーザをしきい値よりも少ない電流で駆動しながら、前記特性を測定する発光点のレーザをしきい値電流以上の電流で駆動して、前記特性を測定する発光点のレーザの特性を測定することを特徴とする複数の発光点を有する半導体レーザの特性の測定方法。

IPC (4件)：

G01R 31/26 ,  H01S 5/022 ,  H01S 5/0683 ,  H01S 5/40

FI (4件)：

G01R 31/26 F ,  H01S 5/022 ,  H01S 5/0683 ,  H01S 5/40

Fターム (13件)：

2G003AA06 ,  2G003AB01 ,  2G003AE06 ,  2G003AF06 ,  2G003AH05 ,  2G003AH10 ,  5F073BA07 ,  5F073EA29 ,  5F073FA05 ,  5F073GA12 ,  5F073GA37 ,  5F073HA03 ,  5F073HA10