特許
J-GLOBAL ID:200903048198321182
タイヤ検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
中島 淳
, 加藤 和詳
, 西元 勝一
, 福田 浩志
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-165095
公開番号(公開出願番号):特開2007-333531
出願日: 2006年06月14日
公開日(公表日): 2007年12月27日
要約:
【課題】タイヤの外面及び内面に拘わらず短時間で高精度にタイヤ表面の欠陥検出する。【解決手段】タイヤ検査装置は、コード露出欠陥を有するタイヤ内面を撮影した画像からウェーブレット解析部60でウェーブレット解析しアナライジングウェーブレット作成部62で求めたコード露出欠陥に特有の周波数からアナライジングウェーブレットを作成した後に、数値フィルタ生成部64で整数化した数値フィルタを生成し、数値フィルタ記憶部66に記憶する。欠陥検出は、ウェーブレット変換部48においてタイヤ内面を撮影した画像から数値フィルタ記憶部66の数値フィルタを用いてウェーブレット変換してコード露出部分を検出して表示部52で表示する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
予め定めたタイヤ表面構造の特徴部分を表す周波数に基づいて、タイヤの表面位置に対応する時間と周波数とに対応付けるウェーブレット変換のためのアナライジングウェーブレットを作成した後に、作成したアナライジングウェーブレットから整数の数値フィルタを生成して記憶する記憶手段と、
タイヤの表面構造を検出する検出手段と、
数値フィルタをアナライジングウェーブレットとして前記検出手段の検出信号をウェーブレット変換する変換手段と、
前記変換手段の変換結果を前記特徴部分を表す特徴情報として出力する出力手段と、
を備えたタイヤ検査装置。
IPC (4件):
G01B 11/00
, G01B 11/30
, G01M 17/02
, B60C 19/00
FI (4件):
G01B11/00 H
, G01B11/30 A
, G01M17/02 B
, B60C19/00 H
Fターム (15件):
2F065AA01
, 2F065AA49
, 2F065BB05
, 2F065CC13
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065MM04
, 2F065MM09
, 2F065PP05
, 2F065PP13
, 2F065QQ00
, 2F065QQ08
, 2F065QQ21
, 2F065QQ33
, 2F065RR05
引用特許:
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