特許
J-GLOBAL ID：200903048263426264
レーザダイオードの劣化判定回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-212859
公開番号（公開出願番号）：特開平10-054777
出願日： 1996年08月12日
公開日（公表日）： 1998年02月24日
要約：
【要約】【課題】イレースモードがない場合でもレーザダイオードの劣化状態を正確に判定できるようにする。【解決手段】イレースモードなしでデータを記録するようにした記録媒体を使用する場合のレーザダイオードの劣化判定である。レーザダイオードの光出力をコントロールするAPCループのループ帯域を広帯域化して、レーザダイオードの立ち上がりを高速にして、イレース用とライト用の各APC期間を従来よりも大幅に短縮する。この短縮によって余ったAPC期間を利用してレーザダイオードの劣化状態が判定される。レーザダイオードが劣化するとその発光出力レベルはドループ特性を呈するので、APC終了時に発光出力レベルを検出して劣化の判定を行う。こうすれば、イレースモードがない場合でもレーザダイオードの劣化状態を判定できる。
請求項（抜粋）：
イレースモードなしでデータを記録するようにした記録媒体を使用するデータ記録再生装置で使用される記録再生用のレーザダイオードの劣化判定回路において、上記レーザダイオードの光出力をコントロールするAPCループが設けられ、このAPCループのループ帯域が広帯域化されて、APC区間で上記レーザダイオードの劣化状態を判定するようにしたことを特徴とするレーザダイオードの劣化判定回路。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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