特許

J-GLOBAL ID：200903048264773090

界面規制力評価法および液晶光学素子

発明者： 山本 雅夫 ,  上村 強
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-045815
公開番号（公開出願番号）：特開平7-253562
出願日： 1994年03月16日
公開日（公表日）： 1995年10月03日
要約：

【要約】【目的】 高分子分散型液晶の液晶材料と高分子材料間に働く界面規制力を評価する方法を提供する。【構成】 基板11上に、高分子分散型液晶に用いる高分子材料の塗膜12を設けた後、塗膜12の表面に表面張力が既知の液晶材料13を一定量滴下し、そのときの接触角14を測定する。前記接触角14と液晶材料13の表面張力から接着仕事を求め界面規制力を評価する。

請求項（抜粋）：

高分子分散型液晶の液晶材料と高分子材料間に働く界面規制力を接着仕事で評価することを特徴とする界面規制力評価法。