特許

J-GLOBAL ID：200903048276182720

地層密度の測定方法及び装置

発明者： マイケル エル エヴァンス
出願人/特許権者： アナドリル アンテルナシオナール ソシエダ アノニマ
代理人 (1件)： 中村 稔 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-027774
公開番号（公開出願番号）：特開平10-227868
出願日： 1997年02月12日
公開日（公表日）： 1998年08月25日
要約：

【要約】【課題】 ボアホールの周りの地下地層の密度を測定する装置及び方法を提供する。【解決手段】 地層密度測定装置、例えば、ワイヤーライン検層ツール又は掘削しながら検層を行うツールは、ボアホール内から地層を照射する高エネルギ中性子源と、高エネルギ中性子による地層の照射の結果生じるボアホール内のガンマ線を検出する検出器とを有する。検出したガンマ線を分析して地層の密度を求める。

請求項（抜粋）：

ボアホールの周りの地下地層の密度を測定する方法であって、ボアホール内から地層に高エネルギ中性子を照射する段階と、高エネルギ中性子による照射の結果として生じるボアホール内のガンマ線を検出する段階と、検出したガンマ線を分析して地層の密度を決定する段階とを有することを特徴とする方法。

IPC (4件)：

G01V 5/10 ,  E02D 1/02 ,  G01N 9/24 ,  G01N 23/204

FI (4件)：

G01V 5/10 ,  E02D 1/02 ,  G01N 9/24 F ,  G01N 23/204

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭51-121401
  
• 特開昭48-041792
  
• 特開昭50-093201
  
• 特開昭61-084585