特許
J-GLOBAL ID:200903048380909063

ターゲット及びこれを用いた三次元形状測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西脇 民雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-047039
公開番号(公開出願番号):特開2009-204449
出願日: 2008年02月28日
公開日(公表日): 2009年09月10日
要約:
【課題】斜め方向から計測した場合でも、円形中心領域部の中心座標の測定精度を損なうことなくコンパクトな構成とすることができ、しかも、視準しやすい三次元計測用ターゲットを提供する。【解決手段】本発明のターゲット110は、矩形状枠110aと、矩形状枠110aによって囲まれかつ対角線の交点Qと同一位置に中心を有する小円110bと、矩形状枠110aによって包囲されかつ小円110bの中心と同心で小円110bを包囲する大円110cとを有する。矩形状枠110aと大円110cとの間の反射領域部は反射率が最も低い低輝度反射領域部110dとされている。大円110cと小円110bとの間の円形周辺領域部は反射率が最も高い高輝度反射領域部110eとされている。小円110bの内側の円形中心領域部は反射率が低輝度反射領域部110dの反射率と高輝度反射領域部110eの反射率との間の中間の反射率を有する中輝度反射領域部110fとされている。【選択図】図6
請求項(抜粋):
測定対象物に設置されて点群データの基準値を得るためのターゲットであって、枠によって囲まれかつターゲット中心を有する小円と、前記枠によって包囲されかつ前記小円の中心と同心で前記小円を包囲する大円とを有し、前記枠と前記大円との間の反射領域部が反射率が最も低い低輝度反射領域部とされ、前記大円と前記小円との間の円形周辺領域部が反射率が最も高い高輝度反射領域部とされ、前記小円の内側の円形中心領域部が反射率が前記低輝度反射領域部の反射率より高く前記高輝度反射領域部の反射率よりも低い中間の反射率を有する中輝度反射領域部とされていることを特徴とするターゲット。
IPC (2件):
G01C 15/06 ,  G01C 15/00
FI (2件):
G01C15/06 T ,  G01C15/00 103A
引用特許:
出願人引用 (5件)
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