特許
J-GLOBAL ID：200903048386672693
コンタクトプローブ移動式回路基板両面検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-179483
公開番号（公開出願番号）：特開平7-035808
出願日： 1993年07月21日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：
【要約】【目的】1000万回以上の長寿命化、0.1mmピッチに対応できるコンタクトプローブ移動式回路基板両面検査装置を提供する。【構成】回路基板上の検査位置に水平移動させるためのX-Yロボットに設置されるヘッド本体47に、パルスモータ40により駆動されてコンタクトプローブ34を基板に接触導通させるための上下スライド軸38を設け、この上下スライド軸38に取り付けられるコンタクトプローブ34を長寿命化および位置決め精度を確保するための尖型先端部を有する板状形状に構成し、この板状のコンタクトプローブ34のたわみを検出するためのたわみセンサ53を設け、コンタクトプローブ34の尖型先端部を基板の反りに対応して一定のコンタクトばねのたわみで基板に接触させることにより位置決め精度を確保し、0.1mmピッチに対応できるようにする。
請求項（抜粋）：
回路基板上の検査位置に水平移動可能で、基板表裏面のそれぞれに対応して設けられた、それぞれ少なくとも1組の対をなしたロボットと、このロボットに設置されたそれぞれのヘッド上に設けられた尖型先端部を有する板状のコンタクトプローブと、このコンタクトプローブを基板に接触導通させるためにヘッド上に設けられた上下スライド手段と、基板の位置を認識する認識手段と、コンタクトプローブからの電流または電圧または直接抵抗を計測する手段とを備えたコンタクトプローブ移動式回路基板両面検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, G01R 31/28
, H05K 3/00
