画像形成装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：西山恵三 , 内尾裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-140350
公開番号（公開出願番号）：特開2004-338336
出願日： 2003年05月19日
公開日（公表日）： 2004年12月02日
要約：

【課題】f-θレンズ固有のばらつきを再補正可能とし、さらに再調整するセグメントの数が少なくすむのでメモリレスで手順・アルゴルの簡素化ができる画像形成装置を提供すること。【解決手段】基準クロック周期と複数のセグメントにそれぞれ対応する変調係数とに基づいて補助クロック周期を算出する補助クロック算出手段と、初期周期値と補助クロック周期とに基づいて、複数のセグメントのうち少なくとも一部分において周波数が異なる画像クロックを生成する画像クロック生成手段とを有し、複数のセグメントを連続する複数のセグメントにブロック分割し、前記ブロック毎に予め設定された設定値におけるレーザ照射位置と実際のレーザ照射位置のずれに応じて、前記セグメントの画素周期を制御してレーザ照射位置のずれを補正する補正手段を有する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

レーザビームで走査される像担持体を有する画像形成装置であって、前記レーザビームで走査される主走査ラインを画素単位で複数のセグメントに分割するセグメント分割手段と、基準クロック周期と前記複数のセグメントにそれぞれ対応する変調係数とに基づいて補助クロック周期を算出する補助クロック算出手段と、予め設定されている初期周期値と前記補助クロック周期とに基づいて、前記複数のセグメントのうち少なくとも一部分において周波数が異なる画像クロックを生成する画像クロック生成手段とを有し、前記複数のセグメントを連続する複数のセグメントにブロック分割し、前記ブロック毎に予め設定された設定値におけるレーザ照射位置と実際のレーザ照射位置のずれを検知する検知手段を有し、前記検知手段の検知結果に応じて、前記セグメントの画素周期を制御してレーザ照射位置のずれを補正する補正手段を有することを特徴とする画像形成装置。

IPC (5件)：

B41J2/44 , H04N1/036 , H04N1/113 , H04N1/23 , H04N1/29

FI (5件)：

B41J3/00 M , H04N1/036 Z , H04N1/23 103Z , H04N1/29 H , H04N1/04 104A

Fターム (33件)：

2C362AA03 , 2C362BB23 , 2C362BB28 , 2C362CB07 , 2C362CB13 , 5C051AA02 , 5C051CA07 , 5C051DB02 , 5C051DB22 , 5C051DB24 , 5C051DB30 , 5C051DC03 , 5C051DE02 , 5C072AA03 , 5C072BA04 , 5C072HA02 , 5C072HA09 , 5C072HA13 , 5C072HB08 , 5C072XA01 , 5C072XA05 , 5C074AA02 , 5C074AA10 , 5C074AA11 , 5C074CC22 , 5C074CC26 , 5C074DD11 , 5C074DD15 , 5C074EE02 , 5C074EE04 , 5C074EE06 , 5C074GG03 , 5C074GG12

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平2-282763
印刷システムの画像データ送出方式および印刷装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-058152 出願人：新潟日本電気株式会社
特開平2-131212

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