特許
J-GLOBAL ID：200903048438948390
飛行時間型質量分析計およびタンデム飛行時間型質量分析計のためのイオンパルスの調製
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 秀策 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-575462
公開番号（公開出願番号）：特表2003-530675
出願日： 2001年03月28日
公開日（公表日）： 2003年10月14日
要約：
【要約】衝突減衰を有するセグメント化イオントラップの使用を、シングルステージ型およびタンデム型の飛行時間型質量分析計の性能(分解能および質量の精確さ)を改善するために開示する。シングルステージ型分析計の場合、イオンは、パルス化イオン源からトラップへと直接投入される。このトラップは、RF場が提供され、ミリトルの圧力のガスで満たされている。その後、イオンは、RF場によって動的にトラップされ、ガス衝突中に冷却され、そして、均一の電場によってこのトラップから飛行時間型質量分析計中へイジェクトされる。タンデム型分析器の場合、パルス化イオンビームは、飛行時間型分析器へと投入されて目的のイオンを選択した後、中程度のエネルギーでこのトラップの中へイジェクトされ、このトラップ内でのフラグメント化が達成される。
請求項（抜粋）：
飛行時間型質量分析計であって、該飛行時間型質量分析計は、(a)イオンパルス生成のためのイオン源;(b)該イオン源に連絡するセグメント化されたイオントラップ;(c)該イオントラップに接続された電源であって、許容された該イオンパルスを該トラップ内へ動的にトラッピングしそして閉じ込めるために、該イオントラップへRFおよびDC電圧を提供する、電源;(d)該イオントラップに接続されたガス供給器であって、該トラップ内の圧力を制御して、該閉じ込められたイオンの衝突による冷却を生じる、ガス供給器;(e)該トラップからイオンのパルスを取り出すために、該イオントラップに適用されるパルス電圧源;および(f)取り出されたイオンのパルスを受け取る飛行時間型質量分析計、を備える、飛行時間型質量分析計。
IPC (4件)：
H01J 49/40
, G01N 27/62
, H01J 49/14
, H01J 49/42
H01J 49/40
, G01N 27/62 K
, G01N 27/62 L
, H01J 49/14
, H01J 49/42
5C038GG07
, 5C038GH13
, 5C038GH15
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
