特許
J-GLOBAL ID：200903048507916889
雑音除去手段を備えるMRI装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
伊東 忠彦
, 大貫 進介
, 伊東 忠重
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-540729
公開番号（公開出願番号）：特表2007-512073
出願日： 2004年11月17日
公開日（公表日）： 2007年05月17日
要約：
本発明は、検査体積において主磁場を発生させる主磁石システムと、概ね、主磁石システムと検査体積との間に形成され、ガラス温度を有する接合素材(11)に埋め込まれたサブ勾配コイル(4、5、6)を備える勾配コイル・システム(1)と、勾配コイル・システムの温度を制御する制御手段(13)と、制御手段によって供給される制御信号に基づいて勾配コイル・システムの温度に影響を及ぼす、温度に影響を及ぼす手段とを備える磁気共鳴撮像(MRI)システムに関する。制御手段は、ガラス温度を超える値に勾配コイル・システムの接合素材の温度をMRIシステムの動作中に制御するのに適している。本発明は、磁気共鳴撮像(MRI)システムを用いる方法に更に関する。
請求項（抜粋）：
磁気共鳴撮像(MRI)装置であって、検査空間において主磁場を発生させる主磁石システムと、概ね、該主磁石システムと前記検査空間との間に配置され、サブ勾配コイルと、該サブ勾配コイルをまとめるガラス温度を備える接合素材とを備える勾配コイル・システムと、該勾配コイル・システムの温度を制御する制御手段と、該制御手段から発信される制御信号に基づいて前記勾配コイル・システムの温度に影響を及ぼす、温度に影響を及ぼす手段とを備え、前記制御手段は、前記MRI装置の動作中に、前記勾配コイル・システムの前記接合素材の温度を、前記ガラス温度を超える値に制御するよう形成されることを特徴とするMRI装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B5/05 340
, G01N24/06 510Y
4C096AA20
, 4C096AB33
, 4C096AB47
, 4C096AD09
, 4C096CB05
, 4C096CB07
, 4C096CB19
, 4C096CB20
