特許

J-GLOBAL ID：200903048618563918

半導体集積回路

発明者： 平川 一朗
出願人/特許権者： 日本電気エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 福山 正博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-135902
公開番号（公開出願番号）：特開2000-329822
出願日： 1999年05月17日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
要約：

【要約】【課題】半導体集積回路の故障検出率向上において、回路規模の増加を最小限に抑制する。【解決手段】故障検出率向上のため、セレクタ204とテスト入力端子202を追加する。セレクタ204はテストパタンでシミュレーション実施時に出力が変化していないフリップフロップ205の前段に挿入し、EX-OR220は同じフリップフロップ205の後段に挿入する。また、テスト入力端子202はセレクタ204に入力する。そしてテスト入力端子からテスト入力信号T202を入力する。テスト信号がテストモード時は、出力が変化していないフリップフロップも変化可能となる。また、出力が変化していないフリップフロップのEX-ORをとりEX-ORを出力することにより故障検出率が向上する。

請求項（抜粋）：

複数のフリップフロップ回路(F/F)を含み、該フリップフロップの故障検出機能を付加する半導体集積回路において、前記フリップフロップのうち選択されたフリップフロップの前段にセレクタを設け、該セレクタの一方の入力端子にデータ入力信号を入力し、出力を前記フリップフロップに入力し、該フリップフロップのQB出力を前記セレクタの他方の入力端子に接続し、前記セレクタの切替選択端子にテスト入力信号を入力することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (2件)：

G01R 31/28 V ,  H01L 27/04 T

Fターム (15件)：

2G032AA04 ,  2G032AC08 ,  2G032AG07 ,  2G032AK15 ,  5F038DF01 ,  5F038DF11 ,  5F038DT02 ,  5F038DT04 ,  5F038DT05 ,  5F038DT06 ,  5F038DT07 ,  5F038DT10 ,  5F038DT18 ,  5F038EZ10 ,  5F038EZ20