特許
J-GLOBAL ID：200903048672794780
光学的パターン認識分類装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
倉持 裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-260693
公開番号（公開出願番号）：特開平5-101029
出願日： 1991年10月08日
公開日（公表日）： 1993年04月23日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】被検パターンの認識分類を確実に行なう光学的パターン認識分類方法を提供する。【構成】認識分類したいパターンが属する閉領域をカテゴリーの数だけ作成し、それに対応した閉領域に分割し、被検パターンの認識分類を行なうニューラルネットワークと、認識分類したいパターンに対応した信号の代表値とバラツキを示す諸量或いは認識分類したいパターンに対応した信号の第1の代表値と、異なる認識分類したいパターンに対応した信号の第2の代表値と、前記第1に最も近い第2の代表値とのN次元の入力空間内の距離を示す諸量とを基準にして、認識分類したいパターンが属する閉領域を作成し、閉領域と照合して、被検パターンの認識を行なう手段とよりなり;ニューラルネットワークの出力と前記手段の出力とを比較してその一致度が望ましくない場合に、ニューラルネットワークの再学習或いは手段における閉領域の追加を行なう。
請求項（抜粋）：
光学的パターン認識分類装置において、N個の異なるパラメータを座標軸とするN次元の入力空間において、認識分類したいパターンが属する閉領域を前記認識分類したいパターンの属するカテゴリーの数だけ作成し、前記N次元の入力空間すべてを少なくとも前記カテゴリーの数に対応した閉領域に分割し、被検パターンの認識分類を行なうニューラルネットワークと、前記N個の異なる入力ユニットに入力される前記認識分類したいパターンに対応した信号の代表値とバラツキを示す諸量或いは前記認識分類したいパターンに対応した信号の第1の代表値と、異なる認識分類したいパターンに対応した信号の第2の代表値と、前記第1の代表値から最も近い前記第2の代表値との前記N次元の入力空間内の距離を示す諸量とを基準にして、前記認識分類したいパターンが属する閉領域を作成し、該閉領域との照合により、被検パターンの認識を行なう手段とよりなり、前記ニューラルネットワークの出力と前記手段の出力とを比較して前記ニューラルネットワークが出力するカテゴリーと前記手段の出力する照合パターンとの一致度により、前記被検パターンの認識分類を行い、前記ニューラルネットワークが出力するカテゴリーと前記手段の出力する照合パターンとの一致度が望ましくない場合に、前記ニューラルネットワークの再学習或いは前記手段における閉領域の追加を行なうことを特徴とする前記光学的パターン認識分類装置。
IPC (3件)：
G06F 15/18
, G02F 3/00 502
, G06F 15/70 465
