特許
J-GLOBAL ID:200903048673067890
画像検査方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
溝上 満好 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-325933
公開番号(公開出願番号):特開平6-147855
出願日: 1992年11月10日
公開日(公表日): 1994年05月27日
要約:
【要約】【目的】 検査画像の不安定画素部分の処理を確実に行って検査画像の欠点部のみを抽出可能で、かつその検査を高速で行え、また簡単な回路で構成可能な画像検査方法を提供すること。【構成】 被検査対象物の所定の画像を基準画像2a,2bとして被検査対象物の検査画像3,6を比較検査する方法であって、基準画像2a,2bを記憶する際に当該入力画像1に膨張叉は収縮処理を施して記憶し、検査画像3,6を前記基準画像2a,2bと比較するときにその検査画像の輪郭部の不安定画素部分を包含又は除外して比較することにより、真に欠点となるべき部分のみを検出することができることとなる。
請求項(抜粋):
被検査対象物の所定の画像を基準画像として被検査対象物の検査画像を比較検査する方法であって、基準画像を記憶する際に当該入力画像に膨張又は収縮処理を施して記憶し、検査画像を前記基準画像と比較するときにその検査画像の輪郭部の不安定画素部分を包含又は除外して比較することを特徴とする画像検査方法。
IPC (4件):
G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06F 15/62 410
, G06F 15/70 460
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開昭62-235550
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特開平4-016752
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特開平3-154807
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