特許

J-GLOBAL ID：200903048679625614

生体サンプル分析装置

発明者： 池谷 生一郎 ,  冨川 貴子
出願人/特許権者： パナソニック株式会社
代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-026181
公開番号（公開出願番号）：特開2009-186311
出願日： 2008年02月06日
公開日（公表日）： 2009年08月20日
要約：

【課題】検出流路に塵埃が付着した生体サンプル分析プレートを使用しても生体サンプルを正確に検出できる生体サンプル分析装置を提供する。【解決手段】生体サンプルを分析するための生体サンプル分析プレートと、前記生体サンプル分析プレートを回転させる回転手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定面を照射するための塵埃検出用光源と、前記測定面よりの反射光を検出するための光検出器と、前記光検出器からの検出信号が所定の閾値よりも大であれば塵埃検出信号を出力する塵埃検出器と、前記生体サンプル分析プレートの測定面の塵埃を除去する塵埃除去手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定前に前記塵埃検出器信号が入力されたときに塵埃除去手段に塵埃除去指示を行なう塵埃制御部と、を備えた生体サンプル分析装置。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

生体サンプルを分析するための生体サンプル分析プレートと、 前記生体サンプル分析プレートを回転させる回転手段と、 前記生体サンプル分析プレートの測定面を照射するための塵埃検出用光源と、 前記測定面よりの反射光を検出するための光検出器と、 前記光検出器からの検出信号が所定の閾値よりも大であれば塵埃検出信号を出力する塵埃検出器と、 前記生体サンプル分析プレートの測定面の塵埃を除去する塵埃除去手段と、 前記生体サンプル分析プレートの測定前に前記塵埃検出器信号が入力されたときに塵埃除去手段に塵埃除去指示を行なう塵埃制御部と、 を備えた生体サンプル分析装置。

IPC (3件)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/47 ,  G01N 21/15

FI (3件)：

G01N21/64 F ,  G01N21/47 Z ,  G01N21/15

Fターム (45件)：

2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043FA06 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043LA01 ,  2G043MA06 ,  2G057AA02 ,  2G057AA04 ,  2G057AB01 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057AC06 ,  2G057BA05 ,  2G057BB07 ,  2G057HA03 ,  2G057JA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059BB09 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059EE11 ,  2G059GG03 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059NN07

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 電気泳動装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-006762   出願人：松下電器産業株式会社