特許

J-GLOBAL ID：200903048754951638

疵判定装置

発明者： 梅田 成二 ,  石原 道章 ,  春名 和幸 ,  横山 廣一
出願人/特許権者： 住友金属工業株式会社
代理人 (1件)： 河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-064310
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273349
出願日： 1993年03月23日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】 鋼板等の板状被判定材における材料疵,点状疵等の判定精度が向上し、介在物等の内質疵の検出も行える疵判定装置を提供する。【構成】 鋼板1の上方に、光学センサ2と磁気光学センサ3とを設け、各センサ2,3から得られる信号を独立的に同一の画像処理部4にて画像処理して疵特徴量を抽出し、疵判定部5にて、各センサ2,3由来の特徴量に基づいて総合的に疵の種別,等級を判定する。

請求項（抜粋）：

被判定材の疵を判定する装置において、前記被判定材に光を照射してその表面からの反射光に応じた信号を得る光学センサ、及び前記被判定材に磁場を印加してその漏洩磁束パターンを光学的に検出した信号を得る磁気光学センサを有するセンサ部と、該センサ部より得られる各信号を独立的に2次元に画像展開して疵の特徴量を抽出する画像処理部と、抽出した疵の特徴量から特定のアルゴリズムに従って疵の種別,等級を判定する疵判定部とを備えたことを特徴とする疵判定装置。

IPC (3件)：

G01N 21/89 ,  G01N 21/88 ,  G01R 33/032

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭55-075313
  
• 特開昭54-029552
  
• 特開昭59-050612