特許
J-GLOBAL ID:200903048772556142
高周波信号測定用のプローブ装置及び測定方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉村 暁秀 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-039794
公開番号(公開出願番号):特開平6-018554
出願日: 1993年03月01日
公開日(公表日): 1994年01月25日
要約:
【要約】【目的】 高周波信号測定用プローブ装置で、試験中の点の電圧に影響しないもの及びそれによる測定方法を提供する。【構成】 プローブ装置(1) は光導電スイッチ(16)を介して蓄積キャパシタンス(17)接続するプローブ接点(12)を有する。光導電スイッチ(16)はパルス化したレーザー(20)を用いて高速で動作する。レーザーパルス(L) は試験中の点(2) での電圧を測定すべき回路(1) の動作サイクル中の瞬間と同期する。ある数のパルス及び動作サイクル後に蓄積キャパシタンス(17)は充電されて測定されるべき電圧の値(V) となる。そうするとキャパシタンス(17)は試験中の点(2) での負荷を形成せず、電圧(V) は精確に決定できる。
請求項(抜粋):
電気回路内の電気信号を測定するためのプローブ装置(10)であって、該装置は、該電気回路(1) の選定された点(2) に接触するための少なくとも1つの電気的接点(12)を有して成り、該電気的接点は電磁輻射に応答するスイッチ(16)の1番目の端子に結合し、また、電磁輻射を生成して、上記スイッチ(16)を切り換えるためにこれを該スイッチに与える手段(20,21,22)を有して成るプローブ装置において、上記スイッチ(16)の2番目の端子は、上記選定された点から得られた電気量を蓄積するためのキャパシタンス(17)に接続していることを特徴とするプローブ装置。
IPC (5件):
G01R 1/06
, G01R 1/067
, G01R 13/20
, G01R 13/34
, G01R 31/28
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