特許

J-GLOBAL ID：200903048793905503

はんだ付け検査システム

発明者： 清水 光一郎 ,  辻 雅人 ,  北條 裕之
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-167863
公開番号（公開出願番号）：特開2002-368411
出願日： 2001年06月04日
公開日（公表日）： 2002年12月20日
要約：

【要約】【課題】 はんだ付けの品質改善を可能とし、人手による修正作業の負担を軽減してトータルコストの低減を可能とするはんだ付け検査システムを実現する。【解決手段】 プリント基板上に実装した電子部品のはんだ付部の良否を検査するはんだ付け検査システムにおいて、前記はんだ付部の良否を検査すると共に、その検査結果と前記プリント基板の識別情報及び前記はんだ付部の位置情報を出力する検査装置と、前記検査結果と前記プリント基板の識別情報及び前記はんだ付部の位置情報とを互いに関連付けて記憶するデータベース、とを具備することを特徴とするはんだ付け検査システム。

請求項（抜粋）：

プリント基板上に実装した電子部品のはんだ付部の良否を検査するはんだ付け検査システムにおいて、前記はんだ付部の良否を検査すると共に、その検査結果と前記プリント基板の識別情報及び前記はんだ付部の位置情報を出力する検査装置と、前記検査結果と前記プリント基板の識別情報及び前記はんだ付部の位置情報とを互いに関連付けて記憶するデータベース、とを具備することを特徴とするはんだ付け検査システム。

IPC (2件)：

H05K 3/34 512 ,  H05K 13/08

FI (2件)：

H05K 3/34 512 B ,  H05K 13/08 D

Fターム (6件)：

5E319AA03 ,  5E319AB01 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319GG03