特許
J-GLOBAL ID：200903048829664109
機器の機能検査システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石黒 健二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-176944
公開番号（公開出願番号）：特開平7-036533
出願日： 1993年07月16日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：
【要約】【目的】 新たな接続線を引く事無く、検査器を接続する為のメンテナンスコネクタを、強制運転を行なうスイッチの近傍に配設する事ができる、機器の機能検査システムの提供。【構成】 立ち基板8に配設される、DIPスイッチ4、5、及びユーアート機能を有する検査器を繋ぐメンテナンスコネクタ6の他端は、接続線41、51、抵抗42、52を介してマイクロコンピュータ7のシリアル通信ポート71、72に接続される。
請求項（抜粋）：
物理量を設定する設定手段と、被制御系の物理量を検出する検出手段と、物理量の増減を行なうアクチュエータと、シリアル通信ポートを有し、検出物理量と設定物理量とに基づいて前記アクチュエータを操作するマイクロコンピュータと、一端を接地し、他端を前記シリアル通信ポートに接続線により接続した、一対の強制運転割付用のスイッチと、各スイッチの他端に接続され、機能検査時にユーアート機能を有する検査器を繋ぐ一対のメンテナンスコネクタとを備える機器の機能検査システム。
IPC (2件)：
G05B 23/02
, F24H 1/10 301
