特許

J-GLOBAL ID：200903048867580857

超音波センサ操作治具及び超音波検査システム

発明者： 中山 茂雄 ,  兼本 茂 ,  日隈 幸治
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-358492
公開番号（公開出願番号）：特開2004-191143
出願日： 2002年12月10日
公開日（公表日）： 2004年07月08日
要約：

【課題】被検査体に塗布する接触媒質の粘性等に左右されることなく超音波検査システムにより被検査体の厚さを高精度に測定する。【解決手段】超音波検査システム1が備える超音波センサ操作治具5では、その内側筒状体25には、径方向に突設された回転バー29が設けられ、一方、外側筒状体26には、回転バー29と係合しこの回転バー29の移動経路を定める螺旋溝30が設けられている。したがって、被検査体6に超音波センサ2を圧接する操作に連動して、被検査体6のその圧接面上で超音波センサ2が自転し、接触媒質の粘性等に影響されることなく、被検査体6の表面に接触媒質27を薄く引き延ばして塗布することが可能になる。これにより、超音波センサ2と被検査体6との密接状態を高めることができるので、超音波を良好に伝播させることが可能となり、被検査体6の厚さを高精度に測定することができる。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

超音波探触子を自転可能に保持するケーシングと、 前記ケーシングに設けられ、接触媒質を介し被検査体の表面に前記超音波探触子を圧接する操作に連動して、前記被検査体のその圧接面上で前記超音波探触子を自転させる探触子自転機構と を具備することを特徴とする超音波センサ操作治具。

IPC (4件)：

G01N29/24 ,  G01B17/02 ,  G01N29/28 ,  H04R17/00

FI (4件)：

G01N29/24 ,  G01B17/02 Z ,  G01N29/28 ,  H04R17/00 330Y

Fターム (30件)：

2F068AA28 ,  2F068AA48 ,  2F068BB23 ,  2F068CC09 ,  2F068CC11 ,  2F068DD00 ,  2F068FF02 ,  2F068FF12 ,  2F068FF14 ,  2F068FF18 ,  2F068FF25 ,  2F068GG01 ,  2F068HH01 ,  2F068NN01 ,  2F068NN08 ,  2F068QQ05 ,  2G047AA07 ,  2G047AC12 ,  2G047BA03 ,  2G047BB01 ,  2G047BB04 ,  2G047BC02 ,  2G047BC11 ,  2G047BC18 ,  2G047CA01 ,  2G047EA10 ,  2G047GA02 ,  2G047GA05 ,  5D019EE01 ,  5D019FF03