特許
J-GLOBAL ID:200903048871980282
半導体ウェハ
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
松本 孝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-191496
公開番号(公開出願番号):特開平9-045594
出願日: 1995年07月27日
公開日(公表日): 1997年02月14日
要約:
【要約】【課題】ウェハ処理工程において、オリエンテーションフラットでの欠けの発生を低減し、欠けに起因するウェハ割れによる歩留りの低下を抑える。【解決手段】へき開面2で形成したオリエンテーションフラット6に、部分的に面取りを施して面取部1を形成し、欠けに弱いへき開面2と欠けに強い面取部1とを混在させる。このようにしてオリエンテーションフラット6部における欠け発生の確率を低減する。
請求項(抜粋):
外周に形成したへき開面に部分的に面取りを施した半導体ウェハ。
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