特許
J-GLOBAL ID：200903048888577562
チップ部品接着剤はみだし検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-009608
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240615
出願日： 1992年01月23日
公開日（公表日）： 1993年09月17日
要約：
【要約】【目的】チップ部品からはみだした接着剤の検査を精度よく検出する。【構成】検査領域発生回路7では、二値化画像信号bを入力し検査領域記憶回路8に記憶されている記憶検査領域信号cにより設定される検査対象部品のパッド上の接着剤はみだし禁止領域に検査領域を発生させ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二値化画像信号dを出力する。計測回路9では、検査領域内二値化画像信号dを入力し、" 0" の数を計測し計測値信号eを判定回路10に出力する。判定回路10では、あらかじめ設定された基準値と入力された計測値とを比較し、計測値のほうが大きければ縦ずれ欠陥と判定する。
請求項（抜粋）：
検査対象部品に上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい部分は”1”に、暗い部分は”0”の二値化画像に変換する二値化回路と、検査対象部品のパッド上の接着剤はみだし禁止領域に発生させる検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域発生回路より出力される検査領域内二値化画像信号より、前記検査領域内のパッドからの反射光のない”0”のエリアを検出し、”0”の数を計測する計測回路と、該計測回路より出力される計測値があらかじめ設定した判定値より大きければ欠陥と判定する判定回路とを含むことを特徴とするチップ部品接着剤はみだし検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/00
, G01N 21/88
, G06F 15/62 405
, H05K 13/08
