特許
J-GLOBAL ID:200903048888944506
多光軸光電センサ及びこれを用いた製造検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
岡本 宜喜 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-108329
公開番号(公開出願番号):特開平9-270688
出願日: 1996年04月03日
公開日(公表日): 1997年10月14日
要約:
【要約】【課題】 多光軸光電センサを工作機械等に用いる場合において、遮光状態に応じて検出条件を変化させて安全性を向上すること。【解決手段】 逐次投光回路11より投光素子LED1〜LEDnを順次駆動する。各投光素子LED1〜LEDnと対向する位置に受光素子PD1〜PDnを設ける。各受光素子の受光レベルを受光選択回路14により選択する。その出力の検出時に、連続する複数光軸の受光が遮光されたときに、その光軸数に応じて遮光検出の計数閾値を変化させることにより、安全性を向上させるようにしている。
請求項(抜粋):
投光素子及びその光軸に合わせて配置した受光素子から成り、互いに光軸を異ならせた複数組の投受光部と、前記投光素子を順次駆動する駆動手段と、前記駆動手段により駆動される投光素子に対応する受光素子の受光信号を選択して出力する受光選択手段と、前記受光選択手段から得られる出力により連続する所定数以上の光軸が全て遮光状態になったときにオフ出力を出す制御手段と、を具備することを特徴とする多光軸光電センサ。
IPC (5件):
H03K 17/78
, G01B 11/00
, G01J 1/02
, G01S 17/02
, G01V 8/20
FI (7件):
H03K 17/78 B
, H03K 17/78 P
, H03K 17/78 S
, G01B 11/00 Z
, G01J 1/02 P
, G01S 17/02 Z
, G01V 9/04 R
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