特許
J-GLOBAL ID:200903048888952932

寸法測定装置および商品処理装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山村 喜信
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-161431
公開番号(公開出願番号):特開平11-337314
出願日: 1998年05月25日
公開日(公表日): 1999年12月10日
要約:
【要約】【課題】 被測定物についての寸法測定の信頼性が高い寸法測定装置、ならびに、該寸法測定装置を備えた商品処理装置を提供する。【解決手段】 被測定物Tを撮像装置2により撮像し、該撮像した撮像情報に基づいて被測定物Tにおける寸法を測定する寸法測定装置に関する。撮像装置2の撮像領域A上の少なくとも1つの方向XまたはYに複数本の基準線CxまたはCyが設けられ、該複数本の基準線CxまたはCy上における被測定物TのエッジEを検出し、該エッジEの位置に基づいて、被測定物Tにおける基準線を設けた少なくとも1つの方向について少なくとも2箇所の寸法を算出し、算出された2以上の寸法に基づいて被測定物Tの寸法を決定する。
請求項(抜粋):
被測定物を撮像装置により撮像し、該撮像した撮像情報に基づいて前記被測定物における寸法を測定する寸法測定装置において、前記撮像装置の撮像領域上の少なくとも1つの方向に複数本の基準線が設けられ、該複数本の基準線上における前記被測定物のエッジを検出し、該エッジの位置に基づいて、前記被測定物における前記基準線を設けた少なくとも1つの方向について少なくとも2箇所の寸法を算出し、算出された2以上の寸法に基づいて前記被測定物の寸法を決定する寸法測定装置。
IPC (3件):
G01B 11/02 ,  B65B 1/30 ,  B65C 9/46
FI (3件):
G01B 11/02 H ,  B65B 1/30 Z ,  B65C 9/46

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