特許
J-GLOBAL ID：200903048915301213
形状測定装置の校正方法及び校正治具
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
芝野 正雅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-250172
公開番号（公開出願番号）：特開2001-074428
出願日： 1999年09月03日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：
【要約】【課題】 この発明は、測定ヘッドを手に把持し、測定対象の周囲を自由に移動させることで、複雑な形状を測定するフリースキャン型形状測定装置において、高精度な測定を行うためには、測定ヘッドのボディーに対するカメラ中心の3次元座標系位置を正確に知る必要がある。【解決手段】 マーカを有した校正治具を利用し、測定ヘッドからカメラ座標での治具位置測定と、ステレオカメラからワールド座標での治具位置測定と、ステレオカメラからワールド座標での測定ヘッド位置・姿勢計測を行い、カメラ座標系とボディ座標系の関係を解くことにより、測定ヘッドのボディーに対するカメラ中心の3次元座標系の精密な位置校正結果を得る。
請求項（抜粋）：
測定者によって自由に移動せしめられる測定ヘッドと、この測定ヘッドに取り付けられた3個以上のマーカと、マーカ位置を計測することで測定ヘッドの位置を測定するステレオカメラとで構成され、対象物体表面の3次元形状を測定する形状測定装置において、マーカを有した校正治具を利用し、前記測定ヘッドからカメラ座標での前記治具の位置測定と、前記ステレオカメラからワールド座標での前記治具の位置測定と、ステレオカメラからワールド座標での前記測定ヘッドの位置及び姿勢計測を行い、これらの結果を用いてカメラ座標系とボディ座標系の関係を解くことにより、前記測定ヘッドのボディーに対するカメラ中心の3次元座標系の位置校正を行う校正方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 A
, G01B 11/00 H
2F065AA03
, 2F065AA37
, 2F065AA53
, 2F065BB27
, 2F065DD02
, 2F065DD19
, 2F065FF05
, 2F065GG07
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065LL00
, 2F065LL22
, 2F065LL50
, 2F065QQ00
