特許

J-GLOBAL ID：200903048928754683

実装部品検査方法

発明者： 澤野井 幸哉 ,  石羽 正人 ,  山本 則仁
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-045663
公開番号（公開出願番号）：特開平6-235699
出願日： 1993年02月10日
公開日（公表日）： 1994年08月23日
要約：

【要約】【目的】全ての部品に対して検査用データをひとつずつ教示する必要がなく、教示作業を簡略化できる。【構成】ティ-チングに際し、部品27a,27bのそれぞれのランドのうち、同一の実装条件を有するランド28a,29a,28b上のウィンドウW1a,W2a,W1bについての特定データを共通の参照用データファイル42aとして、異なる実装条件を有するランド29b上のウィンドウW2bについての特定データは別の参照用データファイル42bとして記憶させる。これら参照用データファイルのファイル名は、基本データファイル41内に記憶されており、検査時には、各ウィンドウごとに記憶されたファイル名に該当する参照用データファイルが読み出され、この参照用データファイルの特定データを用いて検査が実行される。

請求項（抜粋）：

基板上を撮像して得られた画像により、基板上に実装された複数の部品の実装品質を、あらかじめ教示された各部品の検査用データを用いて検査する実装部品検査方法において、前記実装部品検査用データに含まれる複数種の情報のうち、特定の情報については共通の記憶領域にあらかじめ記憶させ、実装部品検査に際して、前記共通の記憶領域を参照して前記特定の情報を読み出すようにした実装部品検査方法。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  H04N 7/18 ,  H05K 13/08

引用特許：

審査官引用 (1件)

• マスクデータ作成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-187812   出願人：松下電器産業株式会社