特許
J-GLOBAL ID:200903048935895926

複数のファントムのうちの任意のものを用いたX線システムの自動式画質評価のための方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松本 研一 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-215948
公開番号(公開出願番号):特開2001-054514
出願日: 2000年07月17日
公開日(公表日): 2001年02月27日
要約:
【要約】【課題】 自動式X線システム・パラメータ評価のシステムを提供すること。【解決手段】 所望のファントムごとに1つの物理モデルなどを作成し、システム内に格納する。本システムはグレースケールX線画像を取り込んでその画像を処理し画像コンポーネントを決定する。その画像に対するヒストグラムを作成し、そのヒストグラム内のしきい値を決定し、それを基準として取り込んだ画像を2値化する。次に、連結コンポーネント解析を使用して画像コンポーネントを決定する。このコンポーネントが合致しない場合はその画像は棄却する。次に、取り込んだ画像内の予想される身体的構造に対応する標識物の位置を特定する。この標識物は、外周リング、垂直、水平のライン・セグメントおよびフィデューシャルを含む。システムはこの標識物を使用して、X線システム・パラメータの測定を行う場所である関心領域を予測する。最後に、この識別されたROI内でX線システム・パラメータが測定される。
請求項(抜粋):
X線画像作成システムの自動式画質評価のための方法であって、取り込んだX線画像内で画像コンポーネントに基づいて、標識物(130、140、230、240、1830)の位置を特定するステップと、前記標識物(130、140、230、240、1830)に基づいて画像コンポーネント(150、160、170、175、195、250、260、270、275、290、295)を決定するために、取り込んだX線画像を処理するステップと、前記標識物(130、140、230、240、1830)に基づいて関心領域を予測するステップと、前記関心領域内で画質パラメータを測定するステップとを含む方法。
IPC (3件):
A61B 6/00 ,  A61B 6/00 390 ,  G06T 1/00 290
FI (3件):
A61B 6/00 350 Z ,  A61B 6/00 390 A ,  G06T 1/00 290 A
引用特許:
審査官引用 (1件)

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