特許

J-GLOBAL ID：200903049025453624

溶接品質を監視するための方法および装置

発明者： ブライアン エル.クレイン ,  ブレット エー.ジョーンズ ,  アラン エル.キルティー ,  ハワード ダブリュー.ルードウィグ
出願人/特許権者： キャタピラー インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 谷 義一 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-534540
公開番号（公開出願番号）：特表2003-512935
出願日： 2000年10月10日
公開日（公表日）： 2003年04月08日
要約：

【要約】電子コントローラ(34)を利用して溶接工程中に溶接ビードの品質を監視するための方法および装置が開示される。この方法および装置は、第1の所定周波数と第2の所定周波数との間の第1の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値を決定し、第1の所定周波数と第2の所定周波数との間の第2の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値を決定し、第2の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値を第1の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値と比較し、第1の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値が第2の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値を上回る場合にその溶接工程を終了することを含む。

請求項（抜粋）：

電子コントローラ(34)を利用して溶接工程中に溶接ビードの品質を監視する方法であって、 第1の所定周波数と第2の所定周波数との間の第1の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値を決定するステップと、 第1の所定周波数と第2の所定周波数との間の第2の溶接パラメータ信号の平均パワースペクトル密度値を決定するステップと、 前記第2の溶接パラメータ信号の前記平均パワースペクトル密度値を前記第1の溶接パラメータ信号の前記平均パワースペクトル密度値と比較し、前記第1の溶接パラメータ信号の前記平均パワースペクトル密度値が前記第2の溶接パラメータ信号の前記平均パワースペクトル密度値を上回る場合に前記溶接工程を終了するステップと、 を備える方法。

IPC (2件)：

B23K 31/00 ,  B23K 9/095 515

FI (2件)：

B23K 31/00 N ,  B23K 9/095 515 Z