半導体集積回路の遅延計算装置及びその方法並びにタイミング検証装置及びその方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：前田弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-370811
公開番号（公開出願番号）：特開2000-195960
出願日： 1998年12月25日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：

【要約】【課題】電源配線による電圧降下を算出し、各素子種別毎の電圧降下を考慮することにより、信頼性の高い遅延計算やタイミング検証を行う。【解決手段】電圧の代表条件における素子種別毎の遅延情報108から設計対象回路の代表遅延値を算出するための手段101と、電源配線における電圧降下を考慮した各素子毎の電源電圧を算出するための手段103,104と、該算出された各素子毎の電源電圧と動作電圧に依存した遅延変動係数情報114とを用いて各素子毎の遅延変動係数を算出するための手段105と、前記代表遅延値と前記各素子毎の遅延変動係数とを用いて各素子毎の遅延値を算出するための手段106とを備える。このようにして得られた回路遅延値情報を元に論理シミュレーション実行手段107でタイミング検証を行う。

請求項（抜粋）：

設計対象回路の電源配線における電圧降下を考慮した各素子毎の電源電圧を算出するための素子電圧値算出手段と、前記算出された各素子毎の電源電圧を用いて各素子毎の遅延値を算出するための回路遅延値算出手段とを備えたことを特徴とする半導体集積回路の遅延計算装置。

IPC (4件)：

H01L 21/82 , G01R 31/28 , G06F 17/50 , H01L 21/66

FI (7件)：

H01L 21/82 T , H01L 21/66 Z , G01R 31/28 F , G06F 15/60 668 E , G06F 15/60 668 S , G06F 15/60 668 U , G06F 15/60 668 P

Fターム (23件)：

2G032AA01 , 2G032AA09 , 2G032AC08 , 2G032AD05 , 2G032AD06 , 4M106AA02 , 4M106BA20 , 4M106CA70 , 4M106DJ11 , 4M106DJ17 , 4M106DJ20 , 5B046AA08 , 5B046BA04 , 5B046JA05 , 5F064EE42 , 5F064EE47 , 5F064EE52 , 5F064HH06 , 5F064HH09 , 5F064HH10 , 9A001BB05 , 9A001HH32 , 9A001LZ08

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