特許

J-GLOBAL ID：200903049042374037

半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置

発明者： 湧川 朝宏
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-031612
公開番号（公開出願番号）：特開平10-227616
出願日： 1997年02月17日
公開日（公表日）： 1998年08月25日
要約：

【要約】【課題】 作業者の手を煩わせず短時間で検査枠を設定できる半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置を提供することを目的とする。【解決手段】 基板のランドの寸法及び位置の情報を含むランドデータを記憶するランドデータ記憶部1と、部品の形状を示す寸法値を含む部品寸法データを記憶する部品寸法データ記憶部2と、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データを記憶する部品搭載データ記憶部3と、決定された検査枠の位置及び形状を保存する検査枠データ記憶部5と、基板のランドの寸法及び位置の情報を含むランドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む部品寸法データと、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を行い検査枠の位置及び形状を決定して前記検査枠データ記憶部に保存する処理部6とを備えている。

請求項（抜粋）：

基板のランドの寸法及び位置の情報を含むランドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む部品寸法データと、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を行い、半田付け状態を検査するエリアを示す検査枠の位置及び形状を決定することを特徴とする半田付け外観検査における検査枠設定方法。

IPC (4件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/26 ,  H05K 3/34 512

FI (4件)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 C ,  G01B 11/26 H ,  H05K 3/34 512 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 検査データ作成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-280489   出願人：日本電気株式会社