特許

J-GLOBAL ID：200903049070675298

引張り試験の伸び計測方法

発明者： 山口 善三 ,  森内 直樹
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 半田 昌男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-315181
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146536
出願日： 1998年11月05日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：

【要約】【課題】 試験片の伸びを自動計測することができる引張り試験の伸び計測方法を提供する。【解決手段】 引張り試験によって破断した試験片2の正面を第二照明装置40で照らしながら、CCDカメラ20で、少なくとも二つのケガキ線2aを含む部分であってケガキ線2a間に破断面が介在する部分を撮像することにより、試験片2についての画像を取得する。画像処理装置50は、その画像に所定のフィルタリング処理を施し、ケガキ線2aの輪郭を強調したフィルタ処理画像を得た後、そのフィルタ処理画像に二値化処理を施す。次に、画像処理装置50は、その二値画像に基づいて、ケガキ線2aに対応する島を抽出した後、そのケガキ線2aに対応する島の位置データを求める。そして、画像処理装置50は、その位置データに基づいて、試験片2の伸びを計測する。

請求項（抜粋）：

目印が長手方向に沿って所定間隔で設けられた試験片に対して、引張り試験を行うことによって前記試験片を二つに破断して前記試験片の伸びを計測する引張り試験の伸び計測方法において、少なくとも二つの前記目印を含む部分であって且つ前記目印間に前記破断した各試験片の破断面が介在する部分を撮像して画像データを取得する工程と、前記画像データに所定のフィルタリング処理を施すことにより、前記目印の輪郭を強調したフィルタ処理画像データを得る工程と、前記フィルタ処理画像データに二値化処理を施すことにより、二値画像データを得る工程と、前記二値画像データにラベル付け処理を施した後、ラベル付けられた各島についての所定の特徴量を求める工程と、前記特徴量に基づいて、前記各島の中から前記目印に対応する島を抽出する工程と、前記目印に対応する島の位置データを求め、その求めた結果に基づいて前記試験片の伸びを算出する工程と、を具備することを特徴とする引張り試験の伸び計測方法。

IPC (2件)：

G01B 11/16 ,  G01N 3/06

FI (2件)：

G01B 11/16 H ,  G01N 3/06

Fターム (40件)：

2F065AA02 ,  2F065AA17 ,  2F065AA22 ,  2F065AA58 ,  2F065AA65 ,  2F065BB01 ,  2F065BB06 ,  2F065BB27 ,  2F065CC00 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ07 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM06 ,  2F065PP01 ,  2F065PP11 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ34 ,  2F065QQ43 ,  2G061AA01 ,  2G061AB03 ,  2G061BA02 ,  2G061BA20 ,  2G061CA01 ,  2G061CB02 ,  2G061CB05 ,  2G061DA07 ,  2G061EC05