特許
J-GLOBAL ID：200903049144874379
表層部平均温度および厚さ方向温度分布測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-223053
公開番号（公開出願番号）：特開平7-077465
出願日： 1993年09月08日
公開日（公表日）： 1995年03月20日
要約：
【要約】【目的】 表面波を測温物体の表層部に伝搬し、伝搬速度を求めてその伝搬速度から表層部平均温度および厚さ方向温度分布を測定することができるような測定方法を提供する。【構成】 測温物体1の表面にたとえばEMATのような超音波探触子21,22が設けられ、送信用の超音波探触子21にはエネルギー供給を行なう超音波パルサ3が接続され、受信用の超音波探触子22には受信した信号を増幅し表面波の周波数を選定するアンプおよびバンドパスフィルタ5が接続される。超音波パルサ3、アンプおよびバンドパスフィルタ5は、ともに制御および演算のためのコンピュータ4に接続される。また、コンピュータ4には、測温物体1の表面温度を測定するための接触式温度計7および放射温度計9が接続される。
請求項（抜粋）：
表面波を測温物体の表層部に伝播させ、前記表面波の伝播距離ならびに伝播時間を測定して伝播速度を演算し、予め前記測温物体と同じ材質の物体により得た前記表面波の伝播速度と前記物体の温度との関係を用いて、前記演算された伝播速度から前記測温物体の表層部平均温度を測定することを特徴とする、表層部平均温度測定方法。
IPC (3件)：
G01K 11/24
, G01K 3/00
, G01K 3/02
