特許

J-GLOBAL ID：200903049267921681

真空バルブ用接点電極

発明者： 奥冨 功 ,  関 経世 ,  山本 敦史
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-051102
公開番号（公開出願番号）：特開平8-249991
出願日： 1995年03月10日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：

【要約】【目的】大電流遮断特性を向上させることができる真空バルブ用接点電極を提供することにある。【構成】Ag、Cuの少なくとも1つよりなる導電性成分と、1500°C以上の溶融温度を有する耐弧性成分と、必要により補助成分とで構成された真空バルブ用接点電極5,6において、該接点電極5,6面上の任意の半径R1 線上の任意の点X1 、同じ半径線R1 上で他の任意の点X2 、X1 とX2 との間隔(X2 -X1 、ただしX2 >X1 ≧0)をX(単位:mm)とし、X1 に於ける導電性成分の成分量(単位:容積%)をA1 、X2 に於ける導電性成分の成分量をA2 、A1 、A2 の導電性成分の成分量の差(A2 -A1 )をA0 とした時、X1 とX2 間の導電性成分の成分量の勾配A/Xが、0.2〜12(容積%)/(mm)である真空バルブ用接点電極。

請求項（抜粋）：

Ag、Cuの少なくとも1つよりなる導電性成分と、1500°C以上の溶融温度を有する耐弧性成分と、必要により補助成分とで構成された真空バルブ用接点電極において、該接点電極面上の任意の半径R1 線上の任意の点X1 、同じ半径線R1 上で他の任意の点X2 、X1 とX2 との間隔(X2 -X1 、ただしX2 >X1 ≧0)をX(単位:mm)とし、X1 に於ける導電性成分の成分量(単位:容積%)をA1 、X2 に於ける導電性成分の成分量をA2 、A1 、A2 の導電性成分の成分量の差(A2 -A1 )をA0とした時、X1 とX2 間の導電性成分の成分量の勾配A/Xが、0.2〜12(容積%)/(mm)であることを特徴とする真空バルブ用接点電極。

IPC (2件)：

H01H 33/66 ,  H01H 1/02

FI (3件)：

H01H 33/66 B ,  H01H 1/02 A ,  H01H 1/02 C

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-266720
  
• 特開昭63-266720