特許
J-GLOBAL ID:200903049300310480

半導体レーザー

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松隈 秀盛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-001385
公開番号(公開出願番号):特開平7-106686
出願日: 1983年02月22日
公開日(公表日): 1995年04月21日
要約:
【要約】【目的】 利得ガイド型と屈折率ガイド型レーザーの両特徴を併せ持つ。【構成】 半導体基体の一主面上に、少なくとも第1のクラッド層、活性層、第2のクラッド層、キャップ層が順次積層され、上記キャップ層上に第1の電極が形成され、上記半導体基体の他の主面に第2の電極が形成され、ストライプ幅が光端面より離れたところでS1 で、光端面でS2 であり、その間で上記ストライプ幅が連続的に変化しているプレーナストライプ構造の半導体レーザーにおいて、S1 を5〜10μm、S2 を0.5〜4μmに設定したことを特徴とする半導体レーザー。
請求項(抜粋):
半導体基体の一主面上に、少なくとも第1のクラッド層、活性層、第2のクラッド層、キャップ層が順次積層され、上記キャップ層上に第1の電極が形成され、上記半導体基体の他の主面に第2の電極が形成され、ストライプ幅が光端面より離れたところでS1 で、光端面でS2 であり、その間で上記ストライプ幅が連続的に変化しているプレーナストライプ構造の半導体レーザーにおいて、接合面に平行な光の仮想的光源の、上記光端面からの距離をD、該光端面から出射する光の等位層面の曲率半径をR、上記光端面での光の近視野像の半値幅をWとすると、WをパラメータにしてDがRのある値において極大となり、Wが大きいほどDが大きいことにより、またほぼ独立にS1 が大きいほどRが大きく、S2 が大きいほどWが大きいことを用いて、S1 を5〜10μm、S2 を0.5〜4μmに設定したことを特徴とする半導体レーザー。
引用特許:
審査官引用 (7件)
  • 特開昭51-100686
  • 特開昭53-045184
  • 特開昭62-108590
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