特許

J-GLOBAL ID：200903049352475534

放射線モニタ装置

発明者： 茂木 健一
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 曾我 道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-245397
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057346
出願日： 2001年08月13日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
要約：

【要約】【課題】 小形化を実現しつつ高精度な測定を可能にし、且つ長寿命で高安定の放射線モニタ装置を得る。【解決手段】 シンチレータ1と、第1および第2の半導体検出器7、8と、各半導体検出器7、8から同時に出力される同時パルスを計数する同時パルス計数回路9と、同時パルス計数回路9の計数値に基づいて演算処理を行う演算器4Aとを備え、シンチレータ1は、放射線がシンチレータ1の表面から入射されるように配置され、各半導体検出器7、8は、シンチレータ1の裏面に並列に配置され、シンチレータ1を介して検出された放射線信号と、各半導体検出器7、8により直接検出された放射線信号とを識別して、後者を排除する。

請求項（抜粋）：

放射線を吸収して蛍光を発生するシンチレータと、前記蛍光を電気信号に変換して出力するとともに前記放射線を直接検出して電気信号を出力する第1および第2の半導体検出器と、前記第1および第2の半導体検出器から同時に出力される同時パルスを計数する同時パルス計数回路と、前記同時パルス計数回路の計数値に基づいて演算処理を行う演算器とを備え、前記シンチレータは、前記放射線が前記シンチレータの表面から入射されるように配置され、前記第1および第2の半導体検出器は、前記シンチレータの裏面に並列に配置されたことを特徴とする放射線モニタ装置。

IPC (4件)：

G01T 1/16 ,  G01T 1/172 ,  G01T 1/20 ,  G01T 1/24

FI (4件)：

G01T 1/16 A ,  G01T 1/172 ,  G01T 1/20 E ,  G01T 1/24

Fターム (19件)：

2G088EE06 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088FF06 ,  2G088GG10 ,  2G088GG11 ,  2G088GG17 ,  2G088GG19 ,  2G088GG20 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ09 ,  2G088KK15 ,  2G088KK28 ,  2G088KK29 ,  2G088LL02 ,  2G088LL05 ,  2G088LL06 ,  2G088LL11

引用特許：

審査官引用 (1件)

• α線シンチレーション検出器及びα線シンチレーション検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-086308   出願人：矢崎総業株式会社