特許
J-GLOBAL ID：200903049401203170
X線回折測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
岡 憲吾
, 住友 教郎
, 室橋 克義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-146978
公開番号（公開出願番号）：特開2008-298681
出願日： 2007年06月01日
公開日（公表日）： 2008年12月11日
要約：
【課題】透過法のX線回折測定を容易としうるX線回折測定方法の提供。【解決手段】本発明のX線回折測定方法は、所定の回転軸線Zsまわりに試料48を回転させながらこの回転軸線Zsに略沿った方向の入射X線を試料48に透過させることにより、X線回折が測定される。好ましい測定方法では、貫通孔46を有する試料ホルダー34と、この試料ホルダー34が取り付けられた状態で回転軸線Zsまわりに回転しうる回転体25とが用いられる。この回転体25は、X線を通過させるためのX線通過孔32を有している。X線通過孔32は、上記回転軸線Zsを通過させるように上記回転体25を貫通している。試料ホルダー34の貫通孔46とX線通過孔32とが連通した連通孔が形成されるように試料ホルダー34が取り付けられている。試料48は、試料ホルダー34の貫通孔46の内側に配置される。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
所定の回転軸線まわりに試料を回転させながらこの回転軸線に略沿った方向の入射X線を上記試料に透過させることにより、X線回折が測定されるX線回折測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (21件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA18
, 2G001BA30
, 2G001CA01
, 2G001GA10
, 2G001JA08
, 2G001JA12
, 2G001KA08
, 2G001LA01
, 2G001MA04
, 2G001MA05
, 2G001PA12
, 2G001QA01
, 2G001QA10
, 2G001RA01
, 2G001SA10
, 2G052AD35
, 2G052AD55
, 2G052DA33
, 2G052GA19
