特許

J-GLOBAL ID：200903049401799588

STN液晶ディスプレイ検査システム、その処理方法及びコンピュータプログラム。

発明者： 高橋 正美
出願人/特許権者： セイコーインスツルメンツ株式会社
代理人 (1件)： 坂上 正明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-357530
公開番号（公開出願番号）：特開2003-156409
出願日： 2001年11月22日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
要約：

【要約】【課題】 STN液晶ディスプレイの点欠陥部分を精確且つ短時間で検出するSTN液晶ディスプレイ検査システム、その処理方法及びコンピュータプログラムを提供する。【解決手段】 ミニマムフィルタ処理によってSTN液晶ディスプレイの表示画像のギャップ部分を補正するギャップ補正手段103と、STN液晶ディスプレイの点欠陥部分を検出し、検出された点欠陥部分に面積強調処理を施す欠陥検出手段104とを設ける。

請求項（抜粋）：

下記の手段を備えることを特徴とするSTN液晶ディスプレイ検査システム。(a)STN液晶ディスプレイの欠陥を検出するためのコマンド及び設定情報を入力する入力手段と、(b)予め用意された良品のサンプルであるSTN液晶ディスプレイの表示画像及び検査対象であるSTN液晶ディスプレイの表示画像とを取得する画像取得手段と、(c)前記画像取得手段によって取得された画像の画素間に存在するギャップ部分に画像処理を施すことにより該ギャップ部分を補正するギャップ補正手段と、(d)前記ギャップ補正手段によって前記ギャップ部分が補正された画像をサンプル画像及び検査対象画像とし、該サンプル画像と該検査対象画像を比較することにより該検査対象画像の点欠陥部分を検出する欠陥検出手段と、(e)前記欠陥検出手段によって検出された前記点欠陥部分を含む前記検査対象画像を表示する表示手段と、(f)前記画像取得手段によって取得された画像、前記サンプル画像、前記検査対象画像、及び前記欠陥検出手段の点欠陥部分検出結果の其々を記録する記録手段。

IPC (5件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/133 500 ,  G09G 3/20 670 ,  G09G 3/36

FI (5件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/133 500 ,  G09G 3/20 670 Q ,  G09G 3/36

Fターム (24件)：

2G086EE10 ,  2H088FA13 ,  2H088HA01 ,  2H088JA13 ,  2H088MA20 ,  2H089KA19 ,  2H089QA16 ,  2H089RA10 ,  2H089TA01 ,  5C006AF51 ,  5C006AF53 ,  5C006AF54 ,  5C006AF61 ,  5C006BB11 ,  5C006BF14 ,  5C006BF15 ,  5C006BF39 ,  5C006EB01 ,  5C080AA10 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080FF09 ,  5C080JJ01 ,  5C080JJ02