特許

J-GLOBAL ID：200903049419467477

高周波耐電圧試験装置

発明者： 岡本 健次
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-135436
公開番号（公開出願番号）：特開平5-333087
出願日： 1992年05月28日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：

【要約】【目的】波形,周波数,および電圧が可変で、最高20KHZ の高周波試験電圧または高周波パルス試験電圧を発生できる高周波耐電圧試験装置を得る。【構成】出力電圧の波形,周波数,および電圧が可変な耐電圧試験装置であって、波形,周波数,および電圧が可変の発振器1と、その出力の電力増幅器2と、電力増幅された高周波電圧を過電流保護回路3を介して受け所定の試験電圧に昇圧して出力する高周波トランス4と、この高周波トランスの一次巻線に並列接続された可変リアクトル5、および二次巻線側に接続された試験電圧監視装置6とを備え、発振器の出力信号の波形,周波数および出力電圧の設定の仕方により、これに対応した高周波試験電圧Vacを被課電試料9に供給する。

請求項（抜粋）：

出力電圧の波形,周波数,および電圧が可変な耐電圧試験装置であって、波形,周波数,および電圧可変の発振器と、その出力の電力増幅器と、その出力高周波電圧を過電流保護回路を介して受け所定の試験電圧に昇圧して出力する高周波トランスと、この高周波トランスの一次巻線に並列接続された可変リアクトル、および二次巻線側に接続された試験電圧監視装置とを備え、前記発振器の出力信号の波形,周波数および出力電圧の設定の仕方により、これに対応した高周波試験電圧を被課電試料に供給するよう形成されてなることを特徴とする高周波耐電圧試験装置。