特許

J-GLOBAL ID：200903049464592100

Tダイ・リップ間隙の測定および調整方法並びに装置

発明者： 水沼 巧治 ,  新田 諭
出願人/特許権者： 東芝機械株式会社
代理人 (1件)： 浜田 治雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-353642
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183158
出願日： 1997年12月22日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：

【要約】【課題】 2次元変位センサを使用することによりTダイ・リップ間隙の距離の測定を高精度化し得ると共に自動化することができ、成形運転停止時におけるリップ間隙分布を予め測定してこれを記憶保持し、次の成形運転時において記憶保持したリップ間隙分布となるように調整設定して、成形運転に際しての立ち上げ時間を短縮することができると共に、樹脂材料の無駄を低減することができるTダイ・リップ間隙の測定および調整方法並びに装置を提供する。【解決手段】 所要のリップ間隙14を保持して対向配置されるTダイの可動リップ10および固定リップ12のそれぞれリップ端面10a、12aに、前記リップ間隙14を形成する端縁部11a、13aと平行に段部15、17または溝部を形成し、これらのリップ端面に対して2次元変位センサを対向配置し、前記リップ間隙を形成するそれぞれリップ端面の両端縁部11a、13aと両段部15、17または両溝部との少なくとも4カ所の位置を同時に測定することにより、前記Tダイ・リップ間隙の距離を算出するように構成する。

請求項（抜粋）：

所要のリップ間隙を保持して対向配置されるTダイのそれぞれリップ端面に、前記リップ間隙を形成する端縁部と平行に段部または溝部を形成し、これらのリップ端面に対して2次元変位センサを対向配置し、前記リップ間隙を形成するそれぞれリップ端面の両端縁部と両段部または両溝部との少なくとも2カ所の位置を同時に測定することにより、前記Tダイ・リップ間隙の距離を算出することを特徴とするTダイ・リップ間隙の測定方法。

IPC (4件)：

G01B 21/16 ,  B29C 47/16 ,  B29C 47/92 ,  G01B 11/14

FI (4件)：

G01B 21/16 ,  B29C 47/16 ,  B29C 47/92 ,  G01B 11/14 Z