特許

J-GLOBAL ID：200903049512243082

回路解析方法および回路解析装置

発明者： 畑山 かおり ,  笹川 幸宏
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-154499
公開番号（公開出願番号）：特開2005-339003
出願日： 2004年05月25日
公開日（公表日）： 2005年12月08日
要約：

【課題】 半導体集積回路の容量値に着目して解析を行うことにより、電力的、速度的に問題のある箇所を抽出し、回路の高速、低電力化を実現する。 【解決手段】 半導体集積回路の回路解析装置であって、前記半導体集積回路内の機能素子容量値に基づいて、前記機能素子または前記機能素子接続配線を、前記半導体集積回路の配置情報を含む設計図上に、区別して表示する容量値出力手段を備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

半導体集積回路の回路解析装置であって、前記半導体集積回路内の機能素子または前記機能素子につながる機能素子接続配線を、前記半導体集積回路の配置情報を含む設計図上に、前記機能素子が持つ機能素子容量値に応じて区別して表示する容量値出力手段を備えることを特徴とする回路解析装置。

IPC (2件)：

G06F17/50 ,  H01L21/82

FI (4件)：

G06F17/50 666L ,  G06F17/50 672W ,  G06F17/50 672Z ,  H01L21/82 T

Fターム (16件)：

5B046AA08 ,  5B046BA04 ,  5B046HA09 ,  5B046JA01 ,  5B046KA06 ,  5F064AA06 ,  5F064BB12 ,  5F064BB19 ,  5F064DD25 ,  5F064EE43 ,  5F064EE57 ,  5F064HH07 ,  5F064HH10 ,  5F064HH12 ,  5F064HH15 ,  5F064HH19

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許第2752597号公報(第9-10頁、第2図)