特許

J-GLOBAL ID：200903049519915450

自動分析装置および容器の汚染判定方法

発明者： 藤田 浩子
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立計測エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-333306
公開番号（公開出願番号）：特開平5-164762
出願日： 1991年12月17日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：

【要約】【目的】 自動分析装置において、測定用容器の汚染による測定精度の低下を防止して、高精度な測定を実行できる自動分析装置を実現する。【構成】 洗浄水ポンプ10および洗浄機構4により、蒸留水が反応容器3に注入される。蒸留水が注入された反応容器3が、光度計6と光源22との間を通過すると、反応容器3の吸光度が測定される。そして、マイクロコンピュータ15によって、反応容器3の汚染原因および汚染程度が判定され、最適な洗剤およびその濃度が決定される。決定された最適な濃度の洗剤により、反応容器3が洗浄される。これにより、反応容器3の汚染が十分に除去され、高精度な測定を実行することができる。

請求項（抜粋）：

測定用容器を洗浄して繰り返し使用できるように構成された自動分析装置において、測定用容器に蒸留水等の判定用液体を注入する手段と、判定用液体が注入された測定用容器の光学的特性を測定する手段と、上記測定用容器の光学的特性に基づいて、測定用容器の汚染原因を判定する手段と、上記測定用容器の光学的特性に基づいて、測定用容器の汚染程度を判定する手段と、測定用容器の汚染原因を判定する手段により判定された汚染原因と汚染程度を判定する手段により判定された汚染程度とに従って、最適な洗剤の種類と濃度とを決定する決定手段と、上記決定手段によって決定された濃度と種類の洗剤により測定用容器を洗浄する手段と、を備えたことを特徴とする自動分析装置。

IPC (4件)：

G01N 35/02 ,  G01N 21/15 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/90

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-287260
  
• 特開昭63-033662
  
• 特開平3-176100
  
• 特開昭62-118258